应变感生沉淀检测

透射电子显微镜（TEM）：利用高能电子穿透样品，观察样品内部结构和相的形成，通过衍射图案分析沉淀的性质。

X射线衍射（XRD）：通过测量样品衍射的X射线强度和角度，确定应变感生沉淀的晶体结构和相组成。

扫描电子显微镜（SEM）：利用电子束扫描样品表面，获取高分辨率的显微结构图像，分析应变及沉淀分布状况。

原子力显微镜（AFM）：通过探针扫描样品表面，获取纳米级表面形貌信息，研究应变导致的微观形变及沉淀。

能量色散X射线谱仪（EDX）：结合SEM使用，对样品进行局部成分分析，确定沉淀物的化学组成。

中子衍射技术：采用中子作为探针，通过衍射分析应变和沉淀的变化，适用于大体积样品的分析。

三维原子探针（3DAP）：通过探针逐层剥离样品并分析各层成分，获得高精度的三维原子分布，确定沉淀析出的机制。

应变计：用于测量材料的变形程度，通过电阻变化来检测应变大小，有助于了解内应力分布。

X射线衍射仪：通过分析材料的晶体结构变化来检测沉淀物的形成，提供精确的相变信息。

透射电子显微镜（TEM）：用于观察材料内部微观结构和相组成，能直接看到沉淀物的形貌和分布。

扫描电子显微镜（SEM）：用于表面微观形貌观察，可结合能谱仪（EDS）进行元素分析，帮助识别沉淀物类型。

显微硬度计：通过检测材料硬度变化来间接推断沉淀现象，因为沉淀物的形成会影响材料硬度。

原子力显微镜（AFM）：用于高分辨率观察表面形貌和纳米级沉淀物，能提供三维表面拓扑信息。

差示扫描量热仪（DSC）：通过分析热流变化检测沉淀反应的热效应，提供热力学信息。