衍射衬度检测

点击:丨发布时间:2024-09-17 09:03:46丨关键词:衍射衬度检测

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北京中科光析科学技术研究所实验室进行的衍射衬度检测,可出具严谨、合法、合规的第三方检测报告。检测范围包括:单晶硅片,金属箔,掺杂半导体,薄膜涂层,多晶材料,纳米颗;检测项目包括不限于晶体结构分析,显微组织观察,颗粒度测量,晶粒取向分析,显微硬等。

检测范围

单晶硅片,金属箔,掺杂半导体,薄膜涂层,多晶材料,纳米颗粒,陶瓷基板,复合材料,碳纤维层,氧化物涂层,磁性材料,晶体管,光刻胶层,压电材料,光伏组件。

检测项目

晶体结构分析,显微组织观察,颗粒度测量,晶粒取向分析,显微硬度,相应偏折角测量,缺陷识别,样品厚度测量,结晶度评估,微观裂纹,膜厚均匀性检查,微区成分分析,界面形貌分析,断层影像分析,形变分布分析,织构分析,晶界特性评估。

检测方法

光学显微镜衍射衬度:使用光学显微镜,通过衍射现象增强对样品的对比度,尤其适用于透明或半透明样品的观察。

X射线衍射:利用X射线通过样品的衍射图案,获取样品的晶体结构和相对密度等信息,适合固体材料的研究。

电子显微镜衍射:在透射电子显微镜中,通过电子束与样品相互作用,形成衍射花样,分析其中的晶体结构和缺陷。

中子衍射:利用中子与原子核的相互作用得到衍射图案,适合研究样品的磁性结构和轻元素位置。

同步辐射衍射:使用同步辐射光源提供的高强度X射线或其他辐射,获取高分辨率的衍射数据,适用于复杂结构的解析。

检测仪器

X射线衍射仪:用于检测和分析物质的晶体结构,通过记录X射线在晶体中的衍射模式来识别物质的晶相和晶粒特征。

电子显微镜:包含透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM),利用电子束的衍射现象来观察样品的纳米级结构、晶界和缺陷。

中子衍射仪:利用中子束的衍射性质进行检测,适用于研究轻元素在晶格中的分布及材料的磁性结构。

光学衍射仪:通过光波衍射用于分析微米和亚微米结构,广泛用于生物样品及聚合物分析。

拉曼光谱仪:虽然不是直接的衍射仪器,但通过检测散射光的频率变化,可以间接获得分子振动和转动信息,提供分子结构的信息。

国家标准

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