一次晶轴检测
点击：丨发布时间：2024-09-17 10:24:01丨关键词：一次晶轴检测
北京中科光析科学技术研究所实验室进行的一次晶轴检测，可出具严谨、合法、合规的第三方检测报告。检测范围包括：硅片，蓝宝石晶片，砷化镓晶片，氮化镓晶片，锗晶片，锂单晶；检测项目包括不限于晶体方位确定、光学显微检查、X射线衍射分析、表面瑕疵、晶体对等。
检测范围
硅片，蓝宝石晶片，砷化镓晶片，氮化镓晶片，锗晶片，锂单晶，石英晶体，钽酸锂单晶，铌酸锂单晶，氧化铝单晶，氧化镁单晶，碳化硅晶片，磷化铟晶片，氧化锆单晶，氧化钇单晶。
检测项目
晶体方位确定、光学显微检查、X射线衍射分析、表面瑕疵、晶体对称性检查、晶体畸变测量、晶界分析、晶体透射性检查、密度测定、红外光谱分析、晶体厚度测量、表面粗糙度评估、晶体应力、晶体排列检查、热导率检查、导电性测量、弹性模量、热膨胀系数测量、表面电阻率测定、晶体折射率测量、晶体应变分析、温度稳定性、声学特性测量、光学干涉分析、拉伸强度、热稳定性分析、晶体纯净度、光散射检查、化学成分分析。
检测方法
光学显微镜检测：利用光学显微镜观察晶体的表面形貌和光学各向异性，通过识别生长条纹或浸蚀形貌确定晶轴方向。
X射线衍射（XRD）：将X射线照射到晶体上，检测衍射图案，根据布拉格定律计算晶轴方向，从而确定晶体的取向。
拉乌埃法：在单晶上进行透射或反射测量，通过获得Laue图案，可以辨识晶体的对称性和晶轴方向。
电子背散射衍射（EBSD）：在电子扫描显微镜中，通过分析电子背散射花样，直接测量晶体的晶向和取向分布。
中子衍射法：类似于XRD，用于存在磁性材料或较大样品的检测，可通过中子与原子核相互作用分析晶轴方向。
检测仪器
晶轴检测仪：用于测定晶体材料的晶轴方向，确保其在后续加工过程中能够达到最佳性能。此仪器通常利用X射线衍射或激光干涉技术，实现高精度的晶轴检测。
X射线衍射仪：通过分析晶体对X射线的衍射图样，可以准确确定晶体的内部结构和晶轴方向，是晶轴检测中常用设备。
激光干涉仪：利用激光干涉原理测量晶体表面的折射差异，从而推断出晶轴方向，适用于高精度要求的检测。
国家标准
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