易滑移面检测

光学显微镜观察：使用光学显微镜观察样品表面，寻找可能存在的滑移线条或特征，判断滑移平面的存在。

扫描电子显微镜（SEM）：利用SEM的高分辨率成像功能，详细观察材料表面的微观结构，识别滑移面和滑移带的特征。

X射线衍射（XRD）：通过分析晶体结构的变化，检测样品内部可能的滑移现象，识别滑移面方向。

透射电子显微镜（TEM）：利用TEM的高分辨能力，深入观察晶体内部的位错运动和滑移面活动。

埃博模糊测试：通过对样品进行特殊电解抛光，显现出滑移面，便于在显微镜下观察。

机械试验（如拉伸试验）：通过施加载荷，观察材料变形行为，间接推测滑移面方向和数量。

原子力显微镜（AFM）：用AFM扫描样品表面，检测滑移面导致的高度变化，获取二维及三维图像信息。

激光扫描仪：能够对地表进行高精度扫描，检测可能存在的滑移面特征，通过数据处理生成地形变化图。

地质雷达（GPR）：利用雷达波探测地下状况，帮助识别地层界面及潜在滑移面的位置。

倾斜仪：监测地表或岩体的倾斜变化，提供滑移面活动的数据支持。

应变计：用于测量地质结构的变形，通过长期监测了解滑移面的活跃程度。

地震仪：记录微震活动，分析地震波特征，判断潜在滑移面的动态变化。

光纤传感器：通过分布式光纤感测技术实时监测地质内部应变变化，识别滑移面的形成及发展。

无人机：搭载高分辨率摄像头或LiDAR进行空中观测，提供地表滑移面详细图像和三维数据。