硬质颗粒检测

光学显微镜法：使用光学显微镜观察并记录颗粒的形态、大小和分布状态，适用于尺寸较大的颗粒检测。

电子显微镜法：通过扫描电子显微镜（SEM）或透射电子显微镜（TEM）观察颗粒的详细结构，适用于微米级及纳米级颗粒的分析。

激光粒度分析法：利用激光散射原理测量颗粒的大小分布，可快速分析颗粒的尺寸特性。

筛分法：使用不同孔径的筛网对颗粒进行分级，适用于颗粒较大时的尺寸分布分析。

X射线衍射法（XRD）：用于分析颗粒的晶体结构，了解成分和矿物相信息。

动态光散射法（DLS）：用于测量悬浮在液体中的纳米颗粒的粒径分布。

沉降法：通过观察颗粒在液体中的沉降速度评估其大小和密度。

能量色散X射线光谱法（EDS）：与电子显微镜结合使用，分析颗粒的化学成分。

表面分析法：如BET法测定颗粒的比表面积，了解其表面特性。

激光粒度分析仪

用于测量和分析颗粒的粒径分布，基于激光散射原理，提供高精确度和快速检测。

图像分析仪

通过摄像系统获取颗粒的图像，利用软件分析形状和大小，为颗粒形态和分布提供视觉化数据。

筛分仪

采用不同网目规格的筛子，通过振动或机械方式将颗粒按大小分级，直接分离并测量不同粒径的含量。

电阻法颗粒分析仪

测量颗粒在电解液中通过孔径时的电阻变化，从而确定颗粒的大小和数量，适用于悬浮颗粒检测。

沉降粒度分析仪

利用颗粒在液体中的沉降速度测定粒径分布，适合分析较大颗粒的沉降行为。

动态光散射仪

通过检测悬浮颗粒在液体中的布朗运动散射光强度变化，来确定颗粒的大小，通常用于纳米颗粒的检测。