应在检测

视觉检测：利用相机和图像处理技术进行表面缺陷、颜色、形状等参数的检测。通常用于快速筛查和自动化检测。

超声波检测：通过超声波在材料中的传播特性，检测内部缺陷、厚度变化等。适用于金属、复合材料等的无损检测。

磁粉检测：使用磁粉和磁场检测材料表面的裂纹和缺陷，主要用于铁磁性材料的检测。

射线检测：通过X射线或γ射线透过材料，检测内部结构和缺陷。适用于复杂结构和厚件的无损检测。

渗透检测：使用渗透液浸润到材料表面的裂缝中，然后利用显像剂检测缺陷。适用于非多孔材料的表面缺陷检测。

电阻检测：测量材料的电阻变化，评估材料的完整性和导电性能，常用于检测电路板和电子元件。

振动分析：通过测量设备或结构的振动频率和模式，分析其运行状态和异常情况，广泛应用于机械设备的状态监测。

红外热成像：利用红外摄像技术检测物体的温度分布，识别热异常和热损失，适用于电气设备和建筑检测。

感应耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）：用于痕量元素分析，能够检测并量化样品中的大多数金属和一些非金属元素。

气相色谱-质谱联用仪（GC-MS）：用于分析挥发性和半挥发性有机化合物，适合环境样品、食品安全和制药领域。

液相色谱-质谱联用仪（LC-MS）：适合分析复杂的有机混合物，广泛应用于制药、生物分析和食品检测领域。

傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）：用于物质的定性分析，可以鉴别有机物质的分子结构。

紫外-可见分光光度计（UV-Vis）：用于测量物质的吸光度，从而确定其浓度，广泛应用于化学分析中。

原子吸收光谱仪（AAS）：主要用于测定液体样品中的金属元素，常用于水质、土壤样品中的元素分析。

扫描电子显微镜（SEM）：用于高分辨率表面成像和分析样品的形态结构，可结合能谱仪（EDS）进行成分分析。

X射线荧光光谱仪（XRF）：用于快速、无损分析固体样品中的元素组成，适合矿石、合金的检测。

电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）：用于多元素检测，适合需要高灵敏度和高精确度的水和土壤样品分析。

NMR核磁共振波谱仪：用于有机化合物结构解析与纯度分析，常用于化学合成和药物开发领域。