沿晶体扩散检测

光学显微镜：通过光学显微镜观察试样表面，放大观察晶界处的扩散现象。

扫描电子显微镜（SEM）：利用高倍放大能力及电子束扫描，详细观察晶界扩散的表面形貌。

透射电子显微镜（TEM）：TEM提供更高的分辨率，以观察晶界扩散的内部结构和成分变化。

能量色散X射线光谱（EDX）：结合SEM或TEM，进行元素分析，检测扩散过程中元素的分布情况。

二次离子质谱（SIMS）：利用二次离子进行深度剖析，获得沿晶界元素的纵向分布情况。

X射线衍射（XRD）：通过分析衍射峰的变化来检测晶界附近的相组成和晶体结构变化。

中子衍射：与XRD类似，但更适用于检测较大样品和轻元素沿晶扩散。

扫描电子显微镜（SEM）：利用电子束扫描样品表面，获得高分辨率的图像，可以观察沿晶体扩散的形貌特征。

透射电子显微镜（TEM）：通过透射电子的方法深入晶体内部，分析和观察沿晶体扩散的微观结构变化。

二次离子质谱（SIMS）：通过分析样品表面二次离子，获得元素的深度分布信息，帮助检测扩散过程。

X射线衍射（XRD）：通过测量X射线在晶体中的衍射图谱变化，研究扩散对晶体结构的影响。

原子力显微镜（AFM）：测量表面形貌和纳米级变化，帮助了解沿晶体扩散对表面平整度的影响。

能谱仪（EDS）：附加在SEM中，通过分析X射线特征，提供元素分布，帮助理解扩散路径和元素扩散。

拉曼光谱：利用光谱分析材料内的化学信息，帮助识别沿晶体界面扩散的物质。