阳离子空位检测

正电子湮没谱法：利用正电子在材料中空位处的延迟湮没特性，通过测量湮没寿命和能谱，判断阳离子空位的存在。

电子顺磁共振（EPR）：检测由于阳离子空位引起的不对称电子环境，通过分析EPR信号的变化，推断空位类型。

X射线光电子能谱（XPS）：通过分析材料表面和近表面的电子结合能，识别阳离子空位引起的能级变化。

透射电子显微镜（TEM）：高分辨率观察晶格结构，通过对比晶格缺陷区域与正态结构的电子密度，识别阳离子空位。

离子散射谱（ISS）：测量离子从样品表面散射出来的强度和能量，分析缺陷引起的散射特性变化。

晶体光学吸收：依据阳离子空位引起的能带变动，测量光吸收谱的变化，以此确定缺陷的存在。

电子顺磁共振（EPR）光谱仪：用于检测材料内部的电子自旋状态，适合识别阳离子空位等缺陷。

离子探针显微镜：利用离子束扫描样品表面，能够测量和识别阳离子空位及其他表面缺陷。

透射电子显微镜（TEM）：通过高能电子束透射样品，能够观察阳离子空位的存在和分布。

X射线光电子能谱（XPS）：用于分析样品表面的元素成分和化学状态，可检测阳离子空位的影响。

原子力显微镜（AFM）：通过探针与样品表面相互作用，能够检测表面形貌及阳离子空位。

正电子湮没光谱（PALS）：用于研究材料中的结构缺陷，包括阳离子空位，通过探测正电子与电子相互湮灭过程。