氧化物粒度检测

激光粒度分析法：通过激光束照射氧化物悬浮液，测量散射光强度，分析粒度分布。

电子显微镜法：使用扫描电子显微镜或透射电子显微镜观察氧化物颗粒形貌，手动测量并统计粒度。

动态光散射（DLS）：通过测量悬浮液中颗粒的布朗运动导致的光散射变化，来确定粒度分布。

X射线衍射（XRD）：通过分析衍射图谱得到粒径信息，适用于晶体结构的氧化物。

沉降法：根据颗粒在液体中的沉降速度，利用Stokes公式计算颗粒的粒度分布。

比表面积测定：通过氮吸附法（BET）测定氧化物的比表面积，间接推算颗粒粒径。

激光衍射粒度分析仪：利用激光的衍射和散射原理，通过测量光强分布来分析氧化物颗粒的大小分布。

动态光散射仪（DLS）：基于布朗运动测量粒子在悬浮液中的散射光强度变化，从而计算出颗粒的粒度分布。

沉降分析仪：基于氧化物颗粒在液体中的沉降速度，通过斯托克斯定律计算粒度分布。

扫描电子显微镜（SEM）：通过高分辨率电子显微技术直接观察和测量颗粒的形态和尺寸。

透射电子显微镜（TEM）：提供更高精度的颗粒内部结构观察，适用于小尺寸氧化物粒子的分析。

静态图像分析仪：利用图像捕捉技术，通过图像处理算法分析和测量颗粒大小和形态。

纳米粒度及Zeta电位分析仪：可同时测量氧化物颗粒的粒度分布及表面电位，帮助研究颗粒稳定性。