岩矿检测

光学显微镜检测：通过薄片技术将岩石样品制备成光学显微薄片，使用光学显微镜观察矿物的形态、晶体大小及相互关系。

X射线衍射（XRD）：利用X射线衍射技术分析岩矿的晶体结构，确定矿物的成分及类型。

扫描电子显微镜（SEM）：使用扫描电子显微镜观察岩矿的表面微观形貌，能够放大观察表面特征和矿物粒度。

能谱分析（EDS）：结合扫描电子显微镜，进行元素成分的定性和半定量分析，以识别岩矿中的化学成分。

电子探针显微分析（EPMA）：通过电子探针对矿物进行详细的化学元素分析，提供定量的成分信息。

拉曼光谱分析：通过激光拉曼光谱技术识别矿物的分子振动模式，从而区分不同的矿物成分。

红外光谱分析：利用红外光谱技术探测矿物分子的振动及化学键，分析岩石中的矿物类型。

化学分析：采用湿化学方法或原子吸收光谱法等对岩矿样品进行化学成分的定量检测。

物理特性测定：包括密度、磁性、稳定性等测定，用于了解岩矿的物理特征及分类。

等离子体光谱分析（ICP-MS）：用于岩矿中微量元素和稀土元素的高精度分析。

X射线荧光光谱仪（XRF）：用于确定岩矿样品中元素组成，通过检测样品激发出的特定X射线波长，实现非破坏性分析。

X射线衍射仪（XRD）：用于识别矿物晶体结构，分析样品的衍射模式以确定矿物的类型和晶相。

扫描电子显微镜（SEM）：用于高分辨率观察岩矿样品的表面形貌和微观结构，并可配合能谱分析(Energy Dispersive Spectroscopy)进行元素分析。

质谱仪：用于测定岩矿中同位素组成和元素丰度，常用的类型包括同位素比值质谱仪（IRMS）和等离子体质谱仪（ICP-MS）。

拉曼光谱仪：用于鉴定矿物化学成分和晶体结构，通过测量样品分子的振动模式进行分析。

热重分析仪（TGA）：用于测量岩矿样品随温度变化的质量变化，以分析样品中的挥发性成分和热稳定性。

傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）：用于分析矿物的分子特征，通过红外光谱识别样品中不同官能团。

激光拉曼光谱仪：类似于普通拉曼光谱仪，但具备更高空间分辨率，适合微区分析。