应变路径检测

光学方法

通过使用光学传感器或摄像系统来检测物体的形变路径，这种方法通常可以提供高分辨率和非接触的检测方式。

电阻应变片

利用贴在物体表面的电阻应变片来测量应变的变化，再通过电桥电路转换为电信号，从而监测应变路径。

激光干涉仪

使用激光干涉技术测量物体的形变量及位移，如双频激光干涉仪，它能够在动态条件下提供高精度的测量结果。

光纤布拉格光栅

在被测结构中安装光纤传感器，通过测量光纤中的波长变化来确定应变分布及其路径。这种方法具有良好的抗电磁干扰性能。

数字图像相关法

采用高分辨摄像设备记录形变过程，通过分析图像数据来获取应变信息，是一种非接触、全视场的应变检测方法。

声发射技术

通过检测材料内部的声发射信号，分析应力集中和裂纹扩展情况，从而判断应变路径。这种方法敏感度高。

磁光应力感应

利用材料的磁光效应，通过检测应变区域产生的磁场变化来确定应变路径，适用于特定导磁材料的检测。

压力传感器：用于测量物体在不同应变状态下施加的压力，帮助分析材料的应变路径。

位移计：用于检测材料变形时的位移变化，协助评估应变路径。

应变片：一种广泛使用的应变检测器，直接贴在材料表面以测量变形程度。

光纤光栅传感器：利用光纤光栅技术，通过测量光频变化实现对应变的高精度检测。

激光测距仪：通过测量激光反射的距离变化，来监测物体表面的位移和应变。

数字图像相关系统（DIC）：采用图像分析技术，通过对一系列图像进行对比分析，计算出物体在不同加载条件下的应变和位移。

超声波测量仪：利用超声波的反射和传播特性，检测材料内部的应变和结构变化。