亚微裂纹检测

超声检测法：利用高频声波在材料中的传播特性，通过信号的反射、折射和衰减来识别亚微裂纹。适用于对内部缺陷的无损检测。

声发射检测法：监测材料受力时释放的弹性波信号，可以实时检测裂纹的萌生与扩展，适用于动态检测环境。

X射线检测法：通过X射线穿透材料，利用图像中黑白对比来识别裂纹的位置和大小，适合对密度变化有较大响应的材料。

显微镜检查：使用光学或电子显微镜对材料表面进行高倍放大观测，直接识别亚微裂纹的形态和分布，适用于表面检测。

磁粉检测法：对于铁磁材料，利用外加磁场使裂纹处的漏磁场吸附磁粉，形成可视图案显示裂纹位置和特征。

液体渗透检测：在材料表面施加渗透液，渗透入裂纹后，通过显色剂或荧光显示裂纹位置，操作简单但适合开口裂纹。

超声波检测仪：利用超声波穿过材料时遇到缺陷会反射回来的原理，检测材料内部的亚微裂纹。

声发射检测仪：通过探测材料在应力作用下由于裂纹扩展产生的声发射信号，识别亚微裂纹的存在和活动。

X射线断层扫描仪（CT）：利用计算机辅助的X射线成像技术生成三维图像，发现材料内部的细微裂纹。

磁粉检测仪：通过在磁化材料表面撒上磁粉，利用磁极的泄漏场来可视化和检测表面及接近表面的亚微裂纹。

涡流检测仪：使用电磁场感应材料中的涡流，并监测其变化来探测亚微裂纹，适合导电材料。

红外热成像仪：通过检测材料表面受热时的温度分布异常，间接识别可能存在的亚微裂纹。

液体渗透检测仪：利用渗透液（如荧光或染色液）浸入裂纹中并在显影后进行可视化，主要用于表面裂纹检测。