点击:丨发布时间:2024-09-22 18:41:10丨关键词:应变仪箔片检测
北京中科光析科学技术研究所实验室进行的应变仪箔片检测,可出具严谨、合法、合规的第三方检测报告。检测范围包括:碳阻箔片、半导体应变计、应变计基底、敏感电阻丝、温度补偿;检测项目包括不限于电阻值、灵敏度系数、绝缘电阻、疲劳性能、温度系数、滞后性能等。
电阻法:使用万用表测量应变仪箔片的电阻值,与标称值比较,确定是否在正常范围内。
外观检查:通过肉眼或显微镜检查箔片表面是否有裂纹、断裂或其他物理损伤。
灵敏度校验:将箔片安装在已知应力条件下,测试其应变输出,与标准值进行比较验证其灵敏度。
绝缘电阻测试:检测应变仪箔片与基底之间的绝缘电阻,确保其不会因湿度或污染导致短路。
温度漂移测试:在不同温度下测试箔片的输出稳定性,确保其在温度变化时性能一致。
应变计:用于测量物体表面应变变化的传感器。它把机械变形转换为电信号,通常由金属箔组成,当受到拉伸或压缩时,其电阻会改变。
测量桥:常用惠斯通电桥电路,与应变计配合使用,以精确测量其电阻变化,从而判断物体的应变。
信号放大器:用于放大应变计产生的微弱电信号,使其达到可以被后续数据采集和分析设备处理的电平。
数据采集系统:用于接收、记录和处理从应变计传来的信号,以数字化的方式存储和分析应变数据。
校准设备:确保应变计输出的准确性,通过已知载荷验证其读数,进行必要的调整和校正。
温度补偿器:减少或消除环境温度变化对应变计测量结果的影响,确保数据的准确性。
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