衍射线增宽检测
点击：丨发布时间：2024-09-22 20:06:56丨关键词：衍射线增宽检测
北京中科光析科学技术研究所实验室进行的衍射线增宽检测，可出具严谨、合法、合规的第三方检测报告。检测范围包括：多晶粉末、纳米颗粒、微晶材料、薄膜、合金样品、复合材料；检测项目包括不限于晶粒尺寸、应变、仪器校正、样品制备检查、数据处理分析、样品温等。
检测范围
多晶粉末、纳米颗粒、微晶材料、薄膜、合金样品、复合材料、热处理样品、退火样品、应变材料、掺杂晶体、织构材料、化学气相沉积样品、溅射材料、锂电池电极材料、陶瓷样品、聚合物样品
检测项目
晶粒尺寸、应变、仪器校正、样品制备检查、数据处理分析、样品温度控制、衍射角度精确测量、仪器分辨率、背景辐射测量、仪器稳定性、信号噪声比测量、衍射峰形状分析、硬件误差校正、化学成分影响、峰位漂移、样品均匀性检查、晶体结构测定、光源稳定性、探测器灵敏度校验、扫描速度校正、样品厚度控制、环境干扰影响分析、信号过滤与平滑处理。
检测方法
四极质谱法：利用质谱仪中的四极杆系统，精确测量衍射线的半高宽以识别样品的成分和结构缺陷。
高分辨X射线衍射法（HRXRD）：使用高精度的X射线衍射仪，测量样品的衍射峰宽度，以分析晶格中的微小变形与应力。
透射电子显微镜（TEM）：通过观察电子束穿过样品后的衍射图样，测量衍射环的半高宽，评估样品的纳米级结构变化。
拉曼光谱法：分析样品的拉曼散射光谱中峰的展宽程度，以评估分子间相互作用和晶体缺陷。
光学轮廓仪：使用非接触式光学设备检测表面的微小不规则性，通过分析衍射线宽度来记录和量化样品表面的粗糙度。
检测仪器
1. X射线衍射仪（XRD）：用于测量材料的衍射图谱，通过分析衍射峰的增宽，可以获取晶粒大小和晶格畸变等信息。
2. 中子衍射仪：使用中子作为探针检测材料内部结构，适合探测较厚样品的衍射现象，通过分析衍射峰增宽了解微观结构变化。
3. 电子衍射仪：通过高能电子波对样品进行衍射，适用于纳米级样品，分析衍射图像中的增宽现象，用于研究晶体缺陷和应变。
国家标准
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