应力分布检测

应变片法：在试件表面粘贴应变片，通过测量应变片的电阻变化，利用应力-应变关系计算应力分布。

光弹性法：在透明材料上施加负载，通过偏光观察内部的光弹性条纹，分析条纹的分布和密度来推测应力状态。

全息图法：采用激光全息技术记录物体在载荷作用前后的全息图，比较两者的干涉图样来分析应力变化。

X射线衍射法：通过对材料表面的X射线衍射谱线进行分析，确定晶格的微小畸变，从而推算应力分布。

声弹性法：利用超声波在材料中的传播特性，测量声波速度的变化，以判断材料内部的应力分布。

数字图像相关法：通过拍摄材料表面的图像，使用相关算法分析图像间的位移场，从而计算应力分布。

磁声发射法：应用于铁磁材料，利用磁场中超声波发射的特性，通过分析磁声信号推测应力分布。

应变片：用于测量材料或结构表面的应变，通过应变与应力的关系计算应力分布。

光弹性应力分析仪：通过观察透明材料在偏振光下的应力条纹图像，分析材料内部的应力分布。

X射线衍射仪：通过测量材料晶格结构的变化，推断出内部应力的分布情况。

声发射检测仪：通过监测材料在应力作用下的声发射信号，评估应力分布和缺陷位置。

电子顺磁共振仪：探测材料内部的应力集中区，通过电子顺磁共振信号判断材料应力分布。

超声波应力检测仪：利用超声波反射或传播速度的变化，评估材料内的应力分布。

红外热成像仪：检测材料在应力作用下的热成像及时变化，评估应力集中和分布状态。