点击:丨发布时间:2024-09-23 10:15:19丨关键词:荧光射线分析检测
北京中科光析科学技术研究所实验室进行的荧光射线分析检测,可出具严谨、合法、合规的第三方检测报告。检测范围包括:矿石、陶瓷、金属合金、玻璃、涂料、宝石、岩石、土壤、粉末;检测项目包括不限于元素成分分析,镀层厚度测量,晶体结构,金属氧化程度,污染物质等。
荧光射线分析检测是一种利用物质在受到激发后发出的特征X射线的技术,用于识别和量化样品成分。
样品准备:将待测样品制备成均匀的粉末或固体片,确保表面平整以减少误差。
激发过程:使用X射线管或放射源激发样品中的原子,使其内层电子被激发并释放特征X射线。
探测器检测:通过能量色散型(EDS)或波长色散型(WDS)探测器,收集样品释放的特征X射线。
数据分析:通过分析探测到的X射线的能量或波长,对样品进行定性和定量分析,识别样品中的元素及其浓度。
结果解释:将荧光射线数据与标准参考样品进行比较,得到样品中的元素组成及含量。
荧光射线分析仪器:主要用于无损检测材料的化学成分,通过激发样品发射特征X射线来测定元素组成和含量。
能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF):利用能量分辨探测器进行荧光X射线的检测,适用于多元素同时分析和快速筛选。
波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF):采用波长分析法,以高精度、高分辨率分析为特点,常用于复杂基体样品的定量分析。
手持式X射线荧光分析仪:便携设备,适用于现场快速定性和半定量分析,常用于矿物勘探、环境监测和废料回收。
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