永久存储电路检测

点击:丨发布时间:2024-09-23 11:30:18丨关键词:永久存储电路检测

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参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

北京中科光析科学技术研究所实验室进行的永久存储电路检测,可出具严谨、合法、合规的第三方检测报告。检测范围包括:电阻器、电容器、二极管、三极管、集成电路芯片、晶振、开关;检测项目包括不限于耐温性能、耐湿性能、漏电流、静电放电抗扰度、功能、电源电压变等。

检测范围

电阻器、电容器、二极管、三极管、集成电路芯片、晶振、开关、电位器、变压器、电感器、继电器、连接器、热敏电阻、光耦合器、滤波器、印刷电路板、保险丝、振荡电路、存储芯片。

检测项目

耐温性能、耐湿性能、漏电流、静电放电抗扰度、功能、电源电压变化、温度循环、抗辐射、热冲击、动作时间、读写速度、存取延迟、数据保持、信号完整性、噪声容限、老化、电源纹波容忍度、短路、上电延迟、过电压保护、芯片互操作性、电磁干扰、震动、跌落、机械冲击、引脚配置、耐腐蚀、耐久性、边缘警告、地磁环境。

检测方法

视觉检查:通过显微镜检查电路的物理完整性,观察是否有裂纹、腐蚀、短路等可见缺陷。

功能测试:运用专用测试仪器,对存储电路进行读写操作,验证其功能是否正常,检查数据存储和检索的准确性。

参数测试:使用测量仪器检测电路的电气参数,如电压、电流、功耗等,确保所有参数在规定范围内。

环境测试:将电路在极端温度、湿度、振动等条件下运行,确认其在各种环境下的可靠性。

老化测试:对电路进行长时间的持续运行,以发现潜在的缺陷或早期失效问题。

电磁兼容性测试:确保电路在电磁环境中无干扰运行,并符合相关标准。

焊接检查:使用X射线检测焊点内部结构,避免焊接不良导致的短路或断路问题。

检测仪器

示波器:用于观察电路中的信号波形,检测数据存储和传输过程中的异常信号。

逻辑分析仪:用于捕获和分析数字电路中的数据流,检查逻辑电路中的操作时序。

万用表:用于测量电路中的电压、电流和电阻,确保电路连接正常,元器件工作在合理范围内。

ESD(静电放电)测试设备:用于测试电路对静电的抵抗能力,确保电路长期稳定地存储数据。

X射线检查设备:用于内部检查永久存储芯片的物理结构,检测可能存在的生产缺陷。

电源完整性测试仪:用于验证电路在不同操作条件下的电源供应状况,确保稳定供电。

国家标准

如果您需要指定相关标准,或要求非标测试、设计试验等,请与工程师联系!