仪器分辨率检测

信号-噪声比（SNR）法检测仪器分辨率：通过测量信号峰值与背景噪声水平之间的比值，较高的SNR表示较高的分辨率。

微调分辨分析法：使用已知尺寸的微细结构样本，观测仪器能否清晰分辨这些结构的细节，较能分辨细节的仪器具有更高的分辨率。

线对间距测试法：使用标准测试图样（如线对图），观测仪器能分辨的最小线对间距，小的线对间距表示高分辨率。

傅里叶变换法：对采集的图像或信号进行傅里叶变换分析，频谱中高频成分的存在和清晰度反映了仪器的分辨率，高频细节更多表示分辨率更高。

调制传递函数（MTF）法：测量系统对不同空间频率信号的响应，MTF曲线越平滑，越能表示出系统的高分辨率。

点扩散函数（PSF）法：测量系统的点源响应，点扩散越小，表示仪器分辨率越高。

光谱分析仪：用于测量不同光波长的强度，帮助分析和检测光源或材料的光学特性。

电子显微镜：能通过电子束对样品进行成像，提供极高的分辨率，用于观察微小结构。

分辨率测试卡：包含一定图案和线条，用于测试摄像设备或显示屏幕的分辨率。

干涉仪：利用光的干涉现象，精密测量表面形貌、厚度等，常用于光学元件的评价。

共聚焦显微镜：利用高分辨率的光学显微成像，能够在样品内部进行三维成像和分析。

热成像仪：通过检测红外辐射生成图像，对温度分布以及热异常进行检测。

扫描隧道显微镜（STM）：利用量子隧穿效应，实现原子级分辨率成像，用于研究材料表面的原子结构。

高分辨率质谱仪：精确测量分子质量，帮助分析复杂混合物的组成和结构。

X射线断层扫描仪（CT扫描）：利用X射线穿透物体并生成断层图像，提供高分辨率的内部结构扫描。

分辨率测试仪：专门设计用于测量显示器或影像设备的分辨率性能，确保图像质量符合标准。