氧化物夹杂检测

1. 扫描电子显微镜（SEM）检测法：利用扫描电子显微镜观察金属样品表面，通过能谱分析（EDS）确定氧化物夹杂的成分和分布情况。

2. 光学显微镜检测法：对经过金相制样后的金属样品进行光学显微镜观察，通过形貌和反射光强度辨识氧化物夹杂，常用于初步定性研究。

3. 微区X射线荧光光谱法（μ-XRF）：利用X射线激发样品表面，分析产生的荧光光谱以确定氧化物夹杂的成分和特征，适合微小区域的分析。

4. 宽场红外显微镜检测法：使用宽场红外显微镜成像技术检测样品中的氧化物夹杂，根据红外吸收光谱确定夹杂的化学组成。

5. 磁力显微镜检测法：用于检查磁性材料中的氧化物夹杂，通过检测材料内部的磁场分布变化来识别夹杂物。

6. 分析电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：样品经过化学分解后，通过ICP-MS技术检测氧化物夹杂的化学成分，具有高灵敏度，可进行痕量分析。

7. C-模式扫描声学显微镜（C-SAM）：利用超声波在材料内部的传播和反射特性，识别和定位氧化物夹杂，适合非破坏性检测。

8. 高分辨率透射电子显微镜（HRTEM）：利用HRTEM对极小范围内的氧化物夹杂进行详细的结构分析，能够提供精确的晶体结构和物相信息。

9. X射线衍射（XRD）：通过测量X射线在样品中的衍射图案，确定氧化物夹杂的晶体结构和物相组成。

10. 扫描探针显微镜（SPM）：包括原子力显微镜（AFM）和扫描隧道显微镜（STM），用于检测样品表面的氧化物夹杂的形貌和电性质。

扫描电子显微镜（SEM）：用于高分辨率地观察材料表面及内部结构，能够精确定位并分析氧化物夹杂。

能谱仪（EDS/EDX）：与SEM搭配使用，通过元素的特征X射线，确定氧化物夹杂的化学成分和分布。

透射电子显微镜（TEM）：提供更高的分辨率，通过电子穿透样品，可对氧化物夹杂进行详细的形貌、尺寸和晶体结构分析。

光学显微镜（OM）：用于初步检测较大尺寸的氧化物夹杂，通过可见光成像技术观察材料的表面及微观结构。

X射线衍射仪（XRD）：用于检测氧化物夹杂的晶体结构，通过分析X射线在样品中的衍射模式，了解其物相组成。

原子力显微镜（AFM）：通过探针扫描样品表面，提供氧化物夹杂的三维形貌信息和纳米级别的表面粗糙度数据。

电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）：检测样品中微量氧化物夹杂的元素组成，具有高灵敏度和多元素分析能力。

激光共聚焦显微镜（CLSM）：利用激光扫描样品，可获得高分辨率的三维图像，并用于表征氧化物夹杂在材料中的分布。