有效粒径检测

激光粒度分析法：利用激光束经过颗粒时发生散射的原理，通过检测散射光的强度及角度来计算颗粒的尺寸分布。

动态光散射（DLS）：通过测量悬浮颗粒因布朗运动导致散射光的变化速度，结合统计学方法计算颗粒的粒径分布。

透射电子显微镜（TEM）：直接通过电子显微镜拍摄颗粒图像，再对图像进行分析来确定粒径分布。

扫描电子显微镜（SEM）：利用电子束扫描颗粒表面，获得高分辨率图像，通过分析图像来估算有效粒径。

离心沉降法：基于颗粒在离心力场中的沉降速度与粒径大小相关，通过测定沉降速度来计算粒径分布。

纳米颗粒追踪分析（NTA）：跟踪和分析颗粒布朗运动轨迹，通过轨迹长度和速率计算粒径分布。

气体吸附法（BET）：通过测量多孔材料的表面积来推测颗粒的粒径，适用于微纳米级颗粒。

激光粒度仪：利用激光衍射原理对颗粒的散射光进行分析，从而测定颗粒的粒径分布，广泛应用于粉体材料、乳液和悬浮液等样品中。

电阻法粒度仪：通过电阻脉动法测量颗粒在电解液中的体积大小，通常用于测量颗粒在液体介质中的分布，适用于多种颗粒材料。

动态光散射仪：基于布朗运动和光散射原理，通过分析样品中颗粒的散射光强度波动来确定颗粒的粒径分布，适用于纳米级颗粒的检测。

图像分析粒度仪：利用显微图像捕捉与计算机图像处理技术，通过分析样品图像来测量颗粒的形态和尺寸，适用于不规则颗粒的分析。

沉降粒度仪：根据颗粒在液体中的沉降速度，通过斯托克斯定律计算颗粒的粒径分布，适用于较大尺寸颗粒的检测。

超声粒度仪：利用超声波在颗粒分散体系中的传播和散射效应，通过测量超声衰减和速度差异来计算粒径分布，适用于复杂介质中的粒径检测。

电镜粒度分析：通过扫描电子显微镜或透射电子显微镜获得颗粒的高分辨率图像，并进行粒径和形态的定量分析，适用于纳米级和微米级颗粒。