衍射检测

光学衍射检测：利用光波经过小孔或狭缝时发生的衍射现象，通过分析衍射图样的变化来检测物体的结构和尺寸。适用于微小结构的测量和表面粗糙度的评估。

X射线衍射（XRD）：利用X射线与晶体内原子周期性排列发生衍射，依据布拉格定律解析衍射图谱，得到物质的晶体结构、相组成等信息，广泛应用于材料科学与工程领域。

电子衍射：通过高能电子束与材料相互作用发生衍射，通过电子显微镜观察和分析衍射图案，可以获得材料的晶体结构信息，适合于纳米尺度材料的研究。

中子衍射：利用中子束与原子核发生衍射，通过探测衍射图样来研究物质的晶体结构、磁结构等性质，由于中子对轻元素和磁性的敏感性，特别适用于研究含有轻元素或磁性材料的结构。

X射线衍射仪（XRD）：这种仪器利用X射线通过晶体材料产生的衍射图形来分析材料的晶体结构和相组成，常用于确定矿物、金属以及化学化合物的晶体结构。

中子衍射仪：中子衍射仪通过中子束的衍射来研究材料的内部结构，特别适用于复杂生物材料、多元素合金和磁性材料的研究。

电子衍射仪（ED）：电子衍射仪利用电子束在薄膜样品上产生的衍射图案，主要用于研究微观区的相组成和晶体结构，广泛应用于材料科学和纳米技术领域。

低能电子衍射仪（LEED）：此仪器利用低能量电子束在样品表面产生的衍射现象，主要用于分析表面结构和表面重新构型，尤其在催化研究和表面物理中应用广泛。

选择区电子衍射（SAED）：这是一种透射电子显微镜（TEM）中的技术，通过选择特定区域进行电子衍射分析，可以在纳米尺度上研究材料的局部晶体结构。