应变曲线检测

1. 应变片法： 应变片是一种电阻应变测量设备，可粘贴在材料表面。通过检测电阻变化来感应材料在应力作用下产生的应变。

2. 激光干涉法： 激光干涉法利用激光的相干性，通过干涉图样的变化来测量应变。这种方法具有高精度和非接触的优点。

3. 数字图像相关法（DIC）： DIC是一种光学测量方法，通过拍摄材料表面在负载前后的图像，并分析图像间的像素位移，转换成应变分布。

4. 光纤光栅传感器： 利用嵌入材料或贴在表面上的光纤光栅，感应由应变引起的光纤内反射波长的变化，从而测量应变。

5. 声发射法： 观测材料在应力作用下产生的声波，通过传感器接收这些声波信号并进行分析以确定应变情况。

6. 超声波法： 利用超声波穿透材料的传播特性，通过监测超声波在材料中的速度变化和衰减来推算应变。

应变片：将应变转换成电信号，它通过铺设在材料表面的条形电阻，当材料变形时，电阻发生变化，从而测量出应变量。

数据采集器：采集应变片传输的电信号，并将这些信号转换成可分析的数据，记录应变变化的全过程。

放大器：对传感器采集到的微弱信号进行放大，以便于数据采集器更准确地记录数据。

计算机：用于后续数据处理和分析，可通过数据采集软件实时监测和显示应变曲线。

温度传感器：部分情况下，还需要使用温度传感器进行温度补偿，以提高应变测量的准确性。