衍射物理理论检测
检测范围
X射线，电子束，中子束，透明晶体，单晶硅，石英晶体，镁合金，不锈钢，半导体薄膜，化合物晶体，高分子材料，多晶样品，矿物样品，有机晶体，金属薄膜，陶瓷材料。
检测项目
波长测量、干涉图样分析、光栅间距测定、透射率计算、衍射角度测定、分辨率、菲涅耳透镜评估、衍射效率评估、布拉格角验证、频谱分析、波前畸变测量、相干性、散射强度测量、振幅、衍射谱线宽度测量、衍射光强分析、瑞利准则验证、光束偏转测量、时空相干性验证、相位差测量、晶格常数验证、散射矢量分析、能量分布测定、点扩散函数测量。
检测方法
X射线衍射法：利用X射线与物质发生弹性散射，通过分析衍射图样可以获得物质的晶体结构和晶粒大小等信息。
电子束衍射法：使用高能电子束照射样品，通过电子束与原子相互作用的衍射现象，可以分析材料的微观结构和电子密度分布。
中子衍射法：中子与原子核相互作用形成衍射图样，适用于研究含轻元素的物质和磁性材料的结构，与X射线衍射互补。
光学衍射法：利用光的衍射现象，通过观测衍射图样来分析物质的微结构，适用于薄膜、图样曝光等实验。
小角度X射线散射法（SAXS）：测量由样品产生的散射强度在非常小的角度下的变化，用于研究大分子、聚合物和纳米材料的形态和尺寸。
检测仪器
X射线衍射仪 (XRD)：X射线衍射仪通过利用X射线与物质相互作用时产生的衍射效应，分析物质的晶体结构和相组成。
电子衍射仪 (ED)：使用高速电子束与样品相互作用，进入晶体的电子束会产生衍射花样，用于探测和分析细小晶体结构或单晶材料。
中子衍射仪：通过利用中子波长与晶体原子间距的相互作用，分析材料的晶体结构和磁性结构，适用于研究轻元素和磁性物质。
光衍射仪：使用激光或其它光源，通过检测光波在物质表面产生的衍射效应，分析微观结构和表面粗糙度。
国家标准
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