叶片型线检测

光学干涉法检测

通过使用光学干涉仪，生成叶片表面的干涉条纹图像，并利用干涉条纹的偏差与标准形状进行比较，确定叶片型线的误差。

激光扫描法检测

采用激光扫描设备，对叶片表面进行高精度的三维扫描，通过获取的测量点云数据与设计模型进行对比，计算出型线误差。

坐标测量机（CMM）检测

使用三坐标测量机，通过接触式或非接触式探头，对叶片的多个关键点进行精确测量，将其与CAD模型参数进行对比，确定型线误差。

投影检测法

利用投影仪将叶片的横截面投影到屏幕或接收器上，结合图像识别技术，将实际的截面轮廓与标准截面轮廓进行比较，分析出偏差。

倒影法检测

利用倒影具，通过对叶片型线的倒影进行观察，可直观地比较其形状与标准形状的差异，判别型线的误差。

模具比对法检测

采用精密制造的标准模具，将叶片放置其中，通过比较叶片与模具间的任何接触情况或空隙，判断其型线的正确性。

超声波检测法

通过超声波传感器对叶片外形进行扫描，利用超声波的反射和传播特性，获得叶片的外形数据，分析出与标准型线的差异。

数字高度计：用于测量叶片的厚度和轮廓高度，精度高，可以精确定位和读取数值。

光学投影仪：通过光学方法投影叶片的外形轮廓以便与标准图形对比，从而检测叶片型线的偏差。

三坐标测量机（CMM）：利用三维坐标系对叶片进行高精度的几何形状测定，检测其长度、宽度及曲面轮廓。

激光扫描仪：利用激光技术对叶片进行无接触扫描，生成三维模型，为形状及表面质量检测提供数据支持。

轮廓仪：通过接触式或者非接触式的方法对叶片表面轮廓进行高精度测量，适用于微小轮廓的检测。

显微镜：主要用于检测叶片表面微观结构和细小缺陷，放大倍率高，适合细致观察。

超声波检测仪：通过超声波反射原理检测叶片内部的裂纹和空洞，确保内部结构完整性。

X射线检测仪：利用X射线对叶片内部进行透视扫描，检测内部缺陷和结构一致性。