隐瞒检测

自适应无损检测系统：利用声波或电磁波，通过不破坏被检测材料的完整性，查找和识别内部的隐蔽缺陷，如裂缝或空洞。

红外热成像仪：通过测量物体表面的红外辐射，生成温度分布图像，从而发现内部或表面隐蔽的热异常，如缺陷或隐匿空间。

便携式X射线荧光光谱仪：通过检测物体表面的X射线荧光，分析材质成分，识别表面或表层的非预期添加物或缺陷。

激光干涉仪：通过干涉测量技术，探测物体表面的微小形变或震动，发现隐藏在表面以下的物理异常。

电涡流检测仪：利用电磁感应原理，检测导电材料内部的隐蔽裂纹或结构缺陷，尤其适用于金属材料的检测。

超声波探伤仪：通过高频声波在材料中的传播，检测内部的缺陷和不连续性，如气孔、裂纹等，适用于各种材料的隐蔽缺陷检测。

核磁共振成像仪：利用核磁共振原理，提供物体内部的高分辨率图像，可识别内部的化学和物理变化，适用于隐蔽结构的无损检测。

光学显微镜：通过光学放大技术，观察物体表面的微观结构，从而识别隐藏在微观层次的缺陷和异物。

金相显微镜：通过对材料的显微结构进行分析，揭示隐藏在材料内部的微观组织变化和缺陷，适用于材料科学研究和质量控制。

直读光谱仪：通过激发样品发射特征光谱，分析其成分和结构，发现隐蔽的化学成分变化或污染。