衍射像检测

光学显微镜检测：利用光学显微镜，通过观察衍射像样品的表面形貌和内部结构变化来进行分析。适用于初步的表面形貌和大致结构形态的判断。

X射线衍射（XRD）：利用X射线衍射技术，通过检测样品对X射线的衍射图谱，分析其晶体结构、相组成、晶粒大小和应力状态等，广泛用于材料科学领域。

电子衍射：采用透射电子显微镜（TEM）或高分辨电子显微镜（HRTEM）进行电子束的衍射图像探测，适用于纳米尺度材料的晶体结构与缺陷的分析。

中子衍射：利用中子衍射技术，通过观察中子在样品中的衍射图谱，检测材料的晶体结构和磁性结构，适用于研究重元素及含氢化合物。

激光衍射粒度分析：通过测量激光束在颗粒样品中的衍射图案，分析粒径分布，适用于颗粒大小和分布的检测。

傅里叶变换衍射（FTD）：利用傅里叶变换分析衍射图像，以提取样品的空间频率信息，用于确定样品的周期性结构和重复单位。

高能电子回旋衍射（RHEED）：利用高能电子束在样品表面产生的衍射图谱，检测薄膜表面的晶体结构和成分，应用于薄膜生长控制和表面界面研究。

光散射衍射：通过检测样品散射光的衍射图，要找出样品的特定光学性质，广泛用于生物学和化学等领域的微观结构分析。

X射线衍射仪（XRD）：X射线衍射仪利用X射线通过物质后产生的衍射图样来分析物质的晶体结构、相组成和晶粒大小。主要用于材料科学、矿物学和化学分析。

电子显微镜（TEM/SEM）：透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）可以以高分辨率观察样品的微观形貌和晶体结构，帮助研究材料内部结构和表面形貌。TEM还能得到衍射图样，用于晶体结构分析。

中子衍射仪：中子衍射仪利用中子束在晶体物质中产生的衍射图样进行分析，与XRD相似，但中子与原子核的相互作用较强，适用于研究轻元素（如氢）和磁性材料的结构。

光学衍射仪：光学衍射仪通过光波在样品上的衍射来研究物质的微观结构，并可用于检测亚微米结构和缺陷。多用于研究光学材料、表面波导和微纳加工技术。