高纯度铝检测

化学分析法：通过化学试剂反应，测定铝样品中的杂质。例如，采用重量法、滴定法等来衡量杂质的质量或含量。

光谱分析法：利用发射光谱、吸收光谱或等离子光谱分析铝中的微量元素。通过光谱仪器检测杂质的特征光谱线来确定纯度。

质谱分析法：应用质谱仪对铝样进行分析，通过测量样品中不同离子的质荷比，鉴定并量化微量杂质。

X射线荧光光谱法（XRF）：利用样品被X射线激发后，发出的特征荧光来分析其化学成分及杂质含量。

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：通过电感耦合等离子体将样品原子化，并测定不同波长光的发射强度，分析样品的成分和杂质。

电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：以高灵敏度检测微量元素和同位素，通过与质谱联用分析铝的高纯度。

中子活化分析法（NAA）：通过中子辐照，使样品中的元素形成放射性同位素，并分析其辐射，以确定元素含量。

电导率测试：由于高纯铝的电导率与纯度密切相关，通过测量电导率来间接判断铝的纯度。

扫描电子显微镜-能谱仪（SEM-EDS）：利用扫描电子显微镜结合能量色散X射线光谱仪对样品表面成分进行微区分析。

光谱分析仪：用于检测铝样品中其他元素的痕量，利用发射光谱或吸收光谱的特征峰来确定杂质的种类和含量。

X射线荧光光谱仪（XRF）：通过检测样品物质的特征X射线荧光信号，可以快速分析样品中铝的纯度及杂质含量。

质谱仪：可对铝样品进行精确的同位素和痕量元素分析，以确定其纯度和可能存在的微量元素。

电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）：用于分析铝中的金属杂质和非金属杂质，具有高灵敏度和精确度。

热分析仪：通过分析铝在不同温度下的反应特性，评估样品的纯度及其可能的化学变化。

直读光谱仪：针对铝合金的成分分析，可以快速检测并提供铝及其杂质的含量信息。