薄药皮检测

超声波检测：利用超声波的穿透性，通过反射波的回波时间和强度来测量药皮的厚度，适用于均匀且表面规则的薄药皮。

光学显微镜检测：使用显微镜对薄药皮的截面进行观察，直接测量其厚度，适合实验室小样本的精确测量。

X射线荧光光谱：测量药皮中元素的特征X射线，间接推测药皮厚度和成分，适用于金属颗粒的包衣检测。

红外光谱分析：通过分析薄药皮对不同波长红外光的吸收情况，判断其厚度和均匀性，多用于有机材料和聚合物的药皮。

电感耦合等离子体质谱：使薄药皮电离并测定离子的质量和数量，以间接测量厚度，适用于需要高精度检测的情况。

激光干涉测量：利用激光的干涉原理测量薄药皮的厚度变化，可用于高精度测量和动态观测。

超声波测厚仪：利用超声波的反射原理，精确测量薄药皮的厚度，适用于多种材料的非破坏性检测。

显微镜：通过高倍率放大观察薄药皮的表面结构和厚度均匀性，可以用于实验室精细检测。

红外光谱仪：使用红外光穿透检测薄药皮的成分和结构变化，帮助分析药皮的均匀性和完整性。

涂层测厚仪：专为不同材质的涂层设计，能够快速、便捷地测量薄药皮的厚度。

X射线荧光光谱仪：利用X射线激发药皮中的元素，分析厚度和成分，提供非破坏性检测选项。

激光扫描仪：通过激光扫描药皮表面，生成三维模型，精确分析厚度和表面缺陷。