表面偏析检测

光电子能谱（XPS）：通过分析样品表面特定元素的电子发射能量，来确定元素的存在和浓度。

二次离子质谱（SIMS）：利用离子束轰击材料表面，检测溅射出的二次离子以分析表面成分。

原子力显微镜（AFM）：通过原子间力的探测来分辨材料表面的微观结构变化。

俄歇电子能谱（AES）：利用入射电子激发表面原子并释放俄歇电子，以获取表面成分信息。

扫描电子显微镜（SEM）结合能谱分析（EDS）：SEM提供表面形貌，而EDS分析表面元素分布。

透射电子显微镜（TEM）：通过高能电子透射来观察表面的微观结构变化，适用于薄片样品。

1. X射线光电子能谱仪（XPS）：用于分析样品表面及近表层化学成分，通过探测元素特征能量的光电子来确定其存在及化学状态。

2. 扫描隧道显微镜（STM）：通过探针接近导电样品表面，测量隧道电流以获得表面原子级别的精细图像，能够观察原子排列变化。

3. 二次离子质谱仪（SIMS）：通过高能离子束轰击样品表面，解析释放出的二次离子，以检测表面及近表面局部化学组成。

4. 附近场光学显微镜（NEOM）：利用光与表面质点的相互作用，通过近场分辨率提供高精度表面偏析信息。

5. 表面增强拉曼光谱（SERS）：利用纳米结构金属表面的电磁场增强效应来提高拉曼信号强度，进行分子检测，适用于极微量表面分析。

6. 透射电子显微镜（TEM）结合能量色散X射线光谱（EDX）：通过高分辨率成像及元素分析检测样品横截面，了解内部分布及表面偏析。

7. 原子力显微镜（AFM）：使用微小探针扫描样品表面，提供物理形貌及粘附性不同区域的分布信息。