方钴矿检测

光学显微镜：通过放大观察样品的颜色、形态及晶体结构特征来识别方钴矿。

X射线衍射（XRD）：利用X射线分析方钴矿的晶体结构，通过衍射图谱对比标准图谱进行确认。

扫描电子显微镜（SEM）：提供方钴矿微观形貌及表面特征，通过能谱分析（EDS）可同时进行成分分析。

能量色散X射线光谱（EDX）：在扫描电子显微镜中使用，检测元素构成及浓度，从而识别方钴矿。

拉曼光谱：通过分析方钴矿的特征振动模式，确定其矿物组分和化学键信息。

ICP-MS（电感耦合等离子体质谱）：将样品溶解后分析其金属元素含量，以此推断是否为方钴矿。

化学滴定法：利用化学反应特性，定量分析钴含量，从而确认方钴矿。

荧光光谱仪：用于检测方钴矿样品中钴等元素的含量，通过元素的特征荧光发射光谱进行定量分析。

X射线衍射仪（XRD）：用于确定方钴矿的晶体结构和物相，识别样品中的矿物组成及其结晶度。

扫描电子显微镜（SEM）：提供方钴矿表面的高分辨率图像，分析样品形貌及微观结构，结合能谱仪可分析元素分布。

能量色散X射线光谱仪（EDX或EDS）：常与SEM结合使用，用于化学成分定性与定量分析，确定方钴矿中不同元素的含量。

质谱仪（MS）：尤其是感应耦合等离子体质谱仪（ICP-MS），用于测定方钴矿中重金属及微量元素的含量和同位素比。

显微光谱仪：结合显微镜和光谱仪，通过光谱分析对方钴矿样品进行微区化学组成分析。

光学显微镜：用于初步观察方钴矿样品的显微结构、晶体形态和光学性质分析。