残存元素检测

光谱分析法：光谱分析法是一种通过测量样品中元素发出的特定波长的光，从而确定其元素组成和含量的方法。常用的光谱分析方法包括火花放电光谱（OES）和电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）。OES适用于快速检测大量元素，而ICP-MS适合检测痕量元素。

X射线荧光光谱法（XRF）：XRF是一种通过测量样品表面受X射线激发后发出的二次X射线（荧光X射线）来进行元素定性和定量分析的方法。这种方法不需要对样品进行破坏，是快速且非破坏性的分析手段，适用于固体和液体样品。

质谱法：质谱法通过测量离子质荷比来进行元素检测，可以提供高灵敏度和高分辨率的检测结果。常见的质谱法包括电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）和气相色谱-质谱（GC-MS）。质谱法适合痕量元素检测，并常用于环境、水质等领域的分析。

原子吸收光谱法（AAS）：AAS通过测量样品中元素原子对特定波长光的吸收来确定其含量。该方法灵敏度高，适用于检测痕量元素。常用于环境、水质、食品和生物样品中的金属元素检测，如铅、铬、汞等。

化学分析法：化学分析法通过化学反应来识别和定量样品中的元素。典型的方法包括滴定法、分光光度法和化学显色法。虽然这些方法相比现代光谱和质谱方法而言操作较为复杂，但在特定条件下仍具有较高的准确性和可靠性。

火花直读光谱仪：用于检测金属材料中的多种基本元素，提供快速、准确的分析结果，尤其适用于生产过程中的质量控制。

X射线荧光光谱仪（XRF）：通过分析样品中发射的荧光X射线，识别并测量元素的浓度，适合固体、液体及粉末样品的分析。

感应耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）：高灵敏度检测装置，用于分析痕量和超痕量的元素，广泛应用于环境、地质、食品等领域。

电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）：采用等离子体源激发样品中的原子，进行多元素同时检测，适用于精确分析复杂基体样品。

原子吸收光谱仪（AAS）：通过吸收光谱技术定量分析样品中的金属元素，常用于测定环境、食品和生物样品中的微量元素。