掺杂再熔法检测

准备标准样品进行对比，确保掺杂物与基体的熔点差异在可检测范围内。

将待测样品加热至高于基体熔点，使其完全熔化，同时确保掺杂物不熔化或保持不同结晶状态。

通过冷却让样品重新凝固，观察重新结晶过程中掺杂物的析出形态或颜色变化。

在不同温度下重复加热和冷却过程，监测掺杂物的行为以获取更详细的信息。

利用显微镜或其他成像设备观察冷却后的样品，分析其中可能存在的结构改变或掺杂物的分布。

结合热分析技术（如DSC）对熔融过程热效应进行量化，辅助判断掺杂物存在。

电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）：ICP-MS可以对样品中的微量和痕量元素进行定量分析，辨别出掺杂材料的化学组成和含量。

电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）：利用高温等离子体激发样品中的元素发射光谱，通过分析这些光谱，可以确定其中所含的各元素及其浓度。

扫描电子显微镜（SEM）：SEM通过聚焦电子束扫描样品表面，产生高分辨率的图像，用于观察材料的形貌和结构，可辨析出掺杂物的分布和形态。

X射线荧光光谱仪（XRF）：通过对样品进行X射线照射，分析其发出的荧光，可以快速测定元素种类及其含量，广泛用于材料分析中的定量检测。

拉曼光谱仪：通过激光照射样品并测量散射光谱，可以获取材料的分子振动、旋转和其他低频模式的信息，有效识别材料的掺杂情况。