硅长岩检测

光学显微镜法：通过观察硅长岩的薄片，分析其矿物成分、结构和纹理，了解其光学特性。

X射线衍射法(XRD)：利用X射线对硅长岩样品进行衍射分析，可以确认其矿物组成和晶体结构。

扫描电子显微镜(SEM)：对样品进行高分辨率成像，可用于分析表面形貌、矿物成分及微观结构。

化学分析法：采用化学溶解和分离技术，分析样品中各主要成分（如SiO2、Al2O3等）的含量。

物理性质测定：测定密度、硬度、热导率等物理性质，以了解其工程应用特性。

地球化学分析：通过谱分析等技术，获取样品中微量元素和同位素组成，揭示其成因和演化过程。

矿物分选法：对样品进行重力分选或浮选，提取不同密度或化学性质的矿物，以便进行更深入的分析。

X射线荧光光谱仪（XRF）：用于分析硅长岩中各类元素的含量，快速、无损，适合现场检测。

电子探针显微分析仪（EPMA）：可用于精确测定硅长岩中微量元素的分布与浓度，适合实验室深入分析。

扫描电镜（SEM）：提供硅长岩的微观形貌及成分信息，有助于理解其矿物结构与特性。

傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）：用于分析硅长岩中的矿物质及其化学键，以了解其矿物的特性和形成环境。

激光拉曼光谱仪：通过光谱分析可识别硅长岩中的矿物相，适合进行非破坏性测试。

热重分析仪（TGA）：测量硅长岩样品在不同温度下的质量变化，分析其热稳定性及组成。