附加应力检测

1. 应变片法: 通过在待测构件上粘贴应变片，测量材料在加载状态下的应变变化，进而计算出附加应力。

2. 激光干涉法: 利用激光干涉仪对构件表面微小变形进行高精度测量，分析其产生的附加应力分布。

3. 声学监测: 采用声波传感器监测材料内部的声波传播特性，推测附加应力对材料性能的影响。

4. X射线衍射法: 利用X射线衍射技术测量材料晶体结构的微小变化，进而推导出内部附加应力的存在及其大小。

5. 数值模拟法: 基于有限元分析软件，模拟构件在不同加载情况下的应力状态，从而预测和分析附加应力的分布。

应力计：用于测量材料内部或表面的应力分布，采用应变计原理，可以精确监测附加应力。

超声波探伤仪：利用超声波探测材料内部缺陷，通过波速和反射信号分析附加应力对材料的影响。

X射线衍射仪：通过X射线的衍射模式分析晶体结构，评估材料因附加应力引起的微观应变。

光弹性仪：通过在光弹性材料上施加负载，观察应力分布与光干涉图案的关系，帮助评估附加应力。

激光测距仪：可以精确测量物体的位移，通过监测位移变化反推附加应力的影响情况。

热成像仪：通过对材料表面温度变化的监测，分析附加应力对材料散热性能的影响。