表面热力学检测

点击:丨发布时间:2024-11-14 17:59:17丨关键词:表面热力学检测

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参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

北京中科光析科学技术研究所实验室进行的表面热力学检测,可出具严谨、合法、合规的第三方检测报告。检测范围包括:金属表面样品、陶瓷材料样品、聚合物表面样品、半导体材料样;检测项目包括不限于接触角测量、表面能分析、表面粗糙度测量、原子力显微镜(AFM等。

检测范围

金属表面样品、陶瓷材料样品、聚合物表面样品、半导体材料样品、涂层样品、纳米材料样品、复合材料表面样品、玻璃表面样品、涂层膜样品、薄膜材料样品

检测项目

接触角测量、表面能分析、表面粗糙度测量、原子力显微镜(AFM)表征、扫描电子显微镜(SEM)观察、X射线光电子能谱(XPS)、傅里叶变换红外光谱(FTIR)、光谱反射率、热重分析(TGA)、差示扫描量热法(DSC)

检测方法

热重分析(TGA):通过测量材料在加热过程中的质量变化,分析其热稳定性和分解特性。

差示扫描量热法(DSC):利用样品与参考物之间的温度差,测量热流变化,以评估材料的相变、热容及热稳定性。

表面电阻率测量:通过设置电极并测量材料表面电流对电压的响应,评估表面电阻和导电性。

接触角测量:使用液体滴布在固体表面,测量液滴与表面之间的接触角,以评估表面润湿性和亲水性。

扫描电子显微镜(SEM):利用高分辨率电子束扫描样品表面,获得微观结构和形貌信息,分析表面特征。

X射线光电子能谱(XPS):通过分析从样品表面发射的光电子,提供元素组成及化学状态信息,解析表面化学性质。

检测仪器

扫描探针显微镜 (SPM):用于表面形貌和物理性质的高分辨率成像,可以分析材料的表面热力学特性。

原子力显微镜 (AFM):通过探针扫描样品表面,测量表面形状及其热性质,适用于微观层面的热力学研究。

热释光检测仪:用于测量材料在加热后释放的光量,可以分析材料的热历史和热力学特性。

差示扫描量热仪 (DSC):用于测量材料在加热或冷却过程中吸收或释放的热量,提供关于材料热力学性质和相变的信息。

热重分析仪 (TGA):通过测量材料随温度变化的质量损失,分析其热稳定性和热分解行为。

红外热成像仪:能够测量表面的温度分布,提供有关热传导和热对流的信息,有助于评估热管理性能。

激光热导率测量仪:专门用于测量固体材料在特定条件下的热导率,能够提供材料的热传导性质。

国家标准

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