细粒结构检测

显微镜观察法：使用光学显微镜或电子显微镜对样品进行观察，分析其细粒结构特征和分布情况。

激光粒度分析法：通过激光束照射样品，测量散射光强度及角度，确定颗粒的大小分布和细粒比例。

扫描电子显微镜(SEM)法：利用扫描电子显微镜进行高分辨率成像，观察细粒的形态及结构特征。

X射线衍射法(XRD)：通过测量样品对X射线的衍射模式，分析细粒材质的晶体结构及相组成。

粒子图像测速法(PIV)：利用相位对比成像技术，分析流体中的细粒的运动特性及分布。

化学分析法：通过化学方法提取细粒，然后采用质谱或色谱等技术分析其成分和含量。

声波传播法：通过声波在介质中传播速度的变化，评估细粒在材料中的分布及影响。

激光粒度仪

激光粒度仪利用激光散射原理，测量细粒材料的粒径分布，能够快速、准确地分析颗粒的尺寸和形状，适用于各种工业和科研领域。

扫描电子显微镜（SEM）

扫描电子显微镜通过电子束扫描样品，以高分辨率观察其表面形态，可以详细分析细粒结构的形貌和微观特征，为材料科学研究提供宝贵数据。

透射电子显微镜（TEM）

透射电子显微镜适用于观察薄样品的内部结构，能提供高分辨率的图像，对细粒结构的原子级细节进行分析，对于材料的晶体结构和缺陷分析尤为重要。

X射线衍射仪（XRD）

X射线衍射仪通过测量样品对X射线的衍射图样，分析其晶体结构和相组成，有助于识别不同细粒材料的相变和结晶特性。

纳米硬度计

纳米硬度计通过施加微小载荷测量材料的硬度，能够评估细粒材料的力学性能，为优化材料设计提供参考依据。