多矿物矿石检测

光谱分析法：利用矿石中矿物成分对光的吸收、反射或发射特性，通过光谱仪器分析矿石样品，确定矿物种类及其含量。

X射线衍射法（XRD）：将矿石样品暴露于X射线下，分析衍射图谱，识别矿物的晶体结构和种类，是矿物定性和定量分析的有效工具。

扫描电子显微镜（SEM）：使用高分辨率电子显微镜观察矿石表面形貌和成分，能够识别微米级的矿物颗粒并进行元素分析。

化学分析法：包括火焰光度法、原子吸收光谱法等，通过化学反应或相应的光谱技术测定矿石中各矿物的元素组成。

重力分离法：利用矿石中不同矿物的密度差，通过重力作用分离主要矿物，适用于一些散矿和颗粒矿物的检测。

浮选法：针对矿石中可浮选的矿物，通过改变矿浆的物理化学性质使目标矿物浮至表面进行收集，有效分离和检测矿物。

磁选法：利用矿石中矿物的磁性差异，通过磁力分选器将具有不同磁性的矿物进行分离，常用于铁矿石等磁性矿物的检测。

光谱分析仪：用于快速识别和定量矿石中的多种矿物成分，利用光谱特征进行矿物鉴定。

X射线荧光光谱仪（XRF）：可用于分析矿石样品中的元素组成，适合检测矿石中重金属及其他微量元素。

显微镜：通过高倍放大观察矿石的矿物成分和颗粒结构，适用于矿物形貌和矿物组合的分析。

化学滴定仪：用于精确测定矿石中某种成分的含量，适合特定矿物的定量分析。

电子探针微区分析仪（EPMA）：能够在微观尺度上分析矿石中各元素的含量和分布，适用于复杂矿物或同矿物组合体的研究。

质谱仪：提供高灵敏度和高分辨率的元素及同位素分析，适合于矿石中微量矿物的检测与分析。