部分充满能带检测

光谱法：利用光谱仪对材料进行激光照射，根据材料对不同波长光的吸收和发射得知能带结构。

X射线光电子能谱（XPS）：通过辐射X射线，测量样品表面原子释放电子的能量，分析其能带信息。

电子能量损失谱（EELS）：通过电子束轰击样品，并测量电子能量损失，获取材料内部能带信息。

紫外光光电子能谱（UPS）：通过紫外光照射样品，测量逸出电子的能量，用于研究材料的价带信息。

磁性测量：通过低温或高温下的磁性测试，分析材料中电子云的分布和能带间隙。

电导率测量：记录材料在不同温度下的电导率变化，从而推导出其能带结构及半导体性质。

能带检测仪器

这种仪器用于测量材料中的能带结构，能够提供关于导电和光学性质的信息，帮助研究人员理解材料在不同能量状态下的行为。

X射线光电子能谱仪（XPS）

XPS用于分析材料表面的化学成分和电子状态，可以直接提供有关材料能带位置和化学状态的细节。

紫外光光电子能谱仪（UPS）

UPS能够测量材料的价带结构，帮助研究其电子激发过程和能带间的跃迁特性，是研究导电性质的重要工具。

电子能量损失谱仪（EELS）

EELS能够分析材料中，电子在散射过程中所损失的能量信息，提供关于能带结构和局部态密度的深入了解。

光致发光光谱仪（PL）

PL用于测量材料在受到光激发后发射的光谱，可以间接反映材料的能带结构和缺陷状态。

场发射显微镜（FE-SEM）

FE-SEM可以观察材料表面的微观结构特征，并结合能谱分析功能，评估样品的能带分布和化学成分。

拉曼光谱仪

拉曼光谱用于检测物质的分子振动和晶体结构，能够提供关于能带结构和缺陷的信息，适用于半导体材料的研究。