颗粒分析检测

1. 激光衍射法：使用激光束照射悬浮或干粉样品，通过测量光的散射角度和强度，计算颗粒的大小分布。适用于测量从亚微米到毫米级别的颗粒。

2. 图像分析法：使用显微镜或摄像系统拍摄颗粒的图像，通过图像处理软件分析颗粒的尺寸和形状。可以提供颗粒数量和形状等信息，适合用于无法分散的颗粒。

3. 比表面积法：采用氮吸附法测量颗粒的比表面积，通过BET原理计算颗粒的平均直径。适用于测量多孔材料和非常细小的颗粒。

4. 沉降法：基于颗粒在流体中的沉降速度来测定颗粒大小，根据斯托克斯定律计算颗粒直径。常用于较大颗粒的分析。

5. 粒度分析仪：利用流体动力学原理和光散射技术，通过流动颗粒与光的相互作用来确定颗粒尺寸分布。适合连续监测和处理大量样品。

6. 动态光散射法：测定颗粒在悬浮液中的布朗运动，通过自相关函数计算颗粒尺寸分布，适用于纳米级颗粒检测。

7. 筛分法：通过将颗粒样品通过一系列不同孔径的筛网，按颗粒大小分级收集样品，适用于粗粒度和大批量样品的分析。

光学显微镜：用于对颗粒的形态、大小进行观察和初步判定，通过目视或拍摄图像进行分析，适用于较大颗粒的简单检测。

激光粒度仪：利用激光衍射原理对颗粒群的尺寸分布进行检测，提供快速、准确的颗粒大小分布数据，适合测量微米级范围的颗粒。

动态光散射仪（DLS）：通过测量颗粒在悬浮液中布朗运动的速度，来分析纳米级颗粒的尺寸分布，常用于胶体系统和纳米材料检测。

筛分分析仪：通过将颗粒物料放在一系列孔径逐渐减小的筛网上，利用机械震动分离并测量各级筛上颗粒的质量，以获得颗粒分布数据，常用于较大颗粒的测量。

沉降粒度分析仪：通过观测颗粒在液体或气体中的沉降速度来测定颗粒大小，适用于较细颗粒的分析，采用斯托克斯定律来分析沉降过程。

气体吸附法（BET）：通过测定颗粒表面积来反推颗粒尺寸，尤其适合于分析粉末和多孔材料的比表面积及孔径大小。

X射线衍射仪（XRD）：用于确定颗粒的晶体结构和相组成，从而提供附加信息以对颗粒的物理性质进行进一步分析。

电子显微镜（SEM/TEM）：通过超高分辨率成像，能详细观测颗粒的微观形态和面貌，适合于分析微米级甚至纳米级颗粒。