点击:丨发布时间:2024-11-18 21:06:06丨关键词:粒度控制检测
北京中科光析科学技术研究所实验室进行的粒度控制检测,可出具严谨、合法、合规的第三方检测报告。检测范围包括:石英砂、钛白粉、滑石粉、碳酸钙、铝土矿、镁砂、硅灰石、玻;检测项目包括不限于粒度大小、筛分分析、粒度分布、显微镜观察、激光粒度仪、比表面等。
使用显微镜观察:通过光学或电子显微镜,观察材料的微观结构,以检测颗粒大小和分布情况。
粒径分析仪测定:使用激光粒度分析仪等颗粒测定设备,测量颗粒的粒径分布。
X射线衍射(XRD):XRD可以用于分析材料的结晶结构,从而可以推断其粒度分布。
过筛实验:利用特定孔径的筛网,将样品进行分级,以测定不同粒径的颗粒比例。
显微图像分析:通过获取样品显微图像,使用图像处理软件进行颗粒尺寸的分析和测量。
动态光散射(DLS):利用光散射理论,通过动态光散射仪测量样品的颗粒尺寸。
激光粒度仪:利用激光衍射和散射原理测量颗粒的大小分布,广泛应用于制药、化工、食品等行业的颗粒检测。
筛分分析仪:通过一系列具有不同孔径的筛网对样品进行振动筛分,从而得出颗粒的粒径分布,常用于矿石和建筑材料的粒度分析。
显微镜成像系统:借助高倍显微镜拍摄颗粒图像,并通过图像分析软件对颗粒进行粒度和形状分析,适用于微米级及纳米级颗粒的检测。
动态光散射仪(DLS):通过测量颗粒在悬浮液中布朗运动引起的光散射变化,以获得颗粒粒径分布,适用于纳米颗粒和胶体粒度分析。
沉降粒度分析仪:根据颗粒在液体中的沉降速度测量粒径,利用斯托克斯定律计算得出,适合高精度测量小颗粒及细粉体。
如果您需要指定相关标准,或要求非标测试、设计试验等,请与工程师联系!