粒度减少检测

1. 视觉检查：通过高倍显微镜观察样品的表面形态和纹理变化，比较不同样品之间颗粒大小的差异。

2. 激光粒度分析：使用激光粒度仪测量颗粒的体积或面积分布，通过对比标准样品，检测样品中颗粒的减少情况。

3. 图像分析软件：捕获颗粒的图像数据，利用软件分析颗粒分布、形状特征和数量，输出粒度统计。

4. 扫描电子显微镜(SEM)分析：利用SEM观察颗粒的结构和尺寸，提供高分辨率图像，识别细微颗粒减少。

5. X射线衍射(XRD)分析：通过分析样品的晶体结构变化来间接指示颗粒减小情况，尤其在纳米级颗粒中。

6. 粉末透射制备：制备用具备不同颗粒尺寸的粉末样品，使用透射方法（如透射电镜）测量颗粒排布和遮蔽现象。

7. 过筛分析：通过不同目数的筛网过滤样品，确定颗粒分布特点，分析受检测粒度段变化如何影响总体颗粒分布。

激光粒度分析仪：激光粒度分析仪应用激光衍射技术，通过测量颗粒对激光散射光的角度和强度，快速准确地分析颗粒样品的粒度分布。适用于各种粉体、悬浮液、乳浊液等。

动态光散射仪：动态光散射仪用于测量亚微米和纳米粒子的大小分布，基于粒子在液体中的布朗运动以及光子的散射，能够提供快速和高分辨率的测试结果。

图像分析粒度仪：利用显微镜和数字图像分析技术捕获和分析颗粒的二维图像，以便确定颗粒的大小及其形状参数，适用于不规则和多相样品的粒度分析。

电阻法粒度分析仪（库尔特计数器）：该仪器基于粒子通过孔隙时对电流的阻断作用来测量粒子体积和数量，适合用于测量细小粒度和低浓度悬浮液的样品。

筛分仪：利用标准筛网的网孔大小，对干粉颗粒进行机械振动，通过颗粒在不同孔径筛网中的通过筛分操作，确定较粗颗粒的粒度分布。

沉降粒度仪：该仪器基于颗粒在液体介质中的沉降速度，通过斯托克斯定律计算出颗粒的粒径，适合于分析较粗颗粒的粒度。

Zeta电位仪器：尽管不是直接用来测量粒度，但Zeta电位仪器有助于提供有关粒子稳定性的信息，结合其他方法可间接分析粒子的粒径变化。