比表面检测

点击:丨发布时间:2024-11-20 09:09:03丨关键词:比表面检测

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北京中科光析科学技术研究所实验室进行的比表面检测,可出具严谨、合法、合规的第三方检测报告。检测范围包括:粉煤灰、活性炭、分子筛、硅藻土、沸石、碳纳米管、石墨烯;检测项目包括不限于粒径分布、孔径分布、比表面积、孔体积、孔隙率、气体吸附测量等。

检测范围

粉煤灰、活性炭、分子筛、硅藻土、沸石、碳纳米管、石墨烯、沉淀二氧化硅、氧化铝、氧化锌、纳米二氧化钛、硼酸镁、氧化镧、硅胶、改性淀粉、膨润土、白云石。

检测项目

粒径分布、孔径分布、比表面积、孔体积、孔隙率、气体吸附测量、物理吸附分析、氮气吸附、BET比表面积、Langmuir表面积测定、孔结构分析、压力水银压入法、热重分析、制样处理、净化干燥、脱气处理、吸附等温线绘制、比表面积评估、表面能计算、孔体积测定、分析仪器校准、液氮冷氮吸附、吸附脱附分析、吸附量校正、材料比表面分析、化学吸附、数据分析与解释。

检测方法

透气法:此方法通过测量气体在材料表面的吸附和凝结过程来评估比表面。常用的方法包括动态吸附法和静态吸附法。

氮气吸附法(BET法):此方法使用氮气在低温下对材料进行吸附,并通过Brunauer-Emmett-Teller (BET) 方程计算材料的比表面积。

水蒸气吸附法:此方法使用水蒸气作为吸附介质,适用于检测疏水性较高材料的比表面积。

汞压入法:通过向材料中压入汞,测定汞的浸润体积与样品孔隙体积之间的关系来计算比表面积。

化学吸附法(化学吸附:通常使用单层气体吸附技术测定比表面积,适用于特定反应气体和材料图谱的匹配分析。

小角中子散射或X射线散射法:利用中子或X射线在小角度下的散射来探测材料纳米级孔隙结构,进而计算比表面积。

扫描电子显微镜法(SEM):此方法用于直接观察材料的表面形貌,结合数据软件分析表面积,但通常不如吸附法精确。

检测仪器

比表面积分析仪:用于测量材料的比表面积,其原理主要是通过气体吸附和解吸附来计算,此仪器适用于粉末、固体材料,尤其在催化剂、吸附剂研究中发挥重要作用。

BET分析仪:基于BET(Brunauer, Emmett and Teller)理论来测量比表面积。通过计算凝结在材料表面的氮气量,得到其比表面积,广泛应用于多孔材料的分析中。

激光粒度分析仪:通过测量材料中颗粒的大小分布,间接推算材料的比表面积,主要用于颗粒较均匀的材料测量。

热重分析仪:虽然不是直接的比表面积测量仪器,但通过挥发性成分的测量和比表面积的关系,在一些应用中作为辅助工具使用。

毛细管流动仪:通过测量液体在多孔材料中的流动性,计算材料的比表面积,适用于液体能浸润的材料的分析。

国家标准

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