未风化矿物检测

偏光显微镜检测：利用偏光显微镜观察矿物的光学特性，如折射率、色散、双折射等，从而判断矿物是否为未风化状态。

X射线衍射（XRD）分析：通过测定矿物晶体的衍射图谱，与已知矿物的数据库进行对比，以确认其矿物组成是否属于未风化状态。

扫描电子显微镜（SEM）分析：利用SEM观察矿物表面的形貌特征和微观结构，判断是否存在风化导致的腐蚀、裂解或侵蚀迹象。

化学成分分析：采用能谱分析（EDS）或化学滴定等方法，检测矿物的化学成分，评估其是否发生化学风化，特定元素的耗损或富集可作为判断的依据。

红外光谱（FTIR）分析：通过检测矿物样品的红外吸收光谱，识别特定的官能团变化，判断是否有机或无机物质因风化改变其化学结构。

热分析：使用差热分析（DTA）或热重分析（TGA），评估矿物在加热过程中的反应，如吸附水的失去或结晶变形，提示风化过程。

同位素比值分析：通过测量矿物的同位素比值，判断其年龄及风化程度，未风化的矿物通常显示出特定的同位素特征。

扫描电子显微镜（SEM）：用于观察和分析矿物的晶体形态和表面特征，可以帮助识别风化和未风化的矿物特征。

X射线衍射仪（XRD）：用于确定矿物的晶体结构，从而区分未风化矿物的成分与其风化产物。

电子探针显微分析仪（EPMA）：用于对矿物进行精确的化学成分分析，以确认矿物是否未受风化影响。

红外光谱仪（FTIR）：用于检测矿物的分子成分和识别特定的矿物基团，这有助于确定矿物的风化状态。

拉曼光谱仪：提供矿物内部的化学组成信息，帮助识别原始矿物成分与风化特征。

热重分析仪（TGA）：通过研究矿物的热稳定性和分解特性来判断其风化状态和化学组成的变化。

质子诱导X射线发射 (PIXE)：用于元素分析以鉴别未风化矿物的精确化学组成。

透射电子显微镜（TEM）：用于高分辨率成像和晶体结构分析，帮助详细观察矿物结构和风化过程中的变化。