吸附物检测

荧光分析法：通过在吸附物上方照射特定波长的光，检测吸附物是否发出特定荧光，以检测吸附物的存在和性质。

重量分析法：通过精确称量样品之前和暴露于吸附气体后重量的变化，确定吸附物的量。

红外光谱法：利用吸附物的分子对红外光的吸收特性，通过红外光谱仪检测特定吸收峰的位置和强度进行定性和定量分析。

气相色谱法：将样品进行挥发，通过气相色谱仪分析其中的吸附物所占的成分比例，提供吸附物种类和含量的信息。

比表面积分析：通过氮吸附法或氩气吸附法测量样品的比表面积，从而判断吸附物的吸附能力。

X射线衍射法：通过记录X射线衍射图谱，辨别出吸附物在样品表面或内部的存在情况，进行结构分析。

扫描电子显微镜：利用扫描电子显微镜观察吸附物在样品表面形貌的变化，以检测其存在状态及分布。

热重分析法：在程序控制的加热条件下，测量样品重量随温度的变化，从而分析出吸附物的热稳定性和分解温度。

比表面积分析仪：用于测量吸附材料的比表面积，帮助评估吸附能力，常采用气体吸附法（如氮气吸附）。

热重分析仪（TGA）：用于测量材料的热稳定性和吸附剂的再生性能，通过加热样品测定其质量变化，得出吸附过程的热效应。

傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）：用于分析吸附物和吸附剂中存在的功能团，确定吸附机制及成分变化，识别样品中化学键的变化。

核磁共振波谱仪（NMR）：用于研究样品的分子结构，识别吸附剂表面及孔隙中吸附物的微观环境变化。

气相色谱仪（GC）：用于分析气相中吸附物的组成和浓度，特别适用于挥发性有机物的检测，配合质谱仪可进一步鉴定化合物。

X射线光电子能谱仪（XPS）：用于研究吸附剂表面的化学状态和电子状态变化，分析表面吸附物的组成和价态特征。

扫描电子显微镜（SEM）：用于观察吸附剂表面形貌，了解吸附物的分布和堆积情况，通过高分辨率图像获取表面微结构信息。