厚层检测

超声检测：利用超声波穿透和反射的特性，通过分析回波信号来识别厚层材料的内部缺陷和厚度变化。这种方法适用于金属和非金属材料，能够提供深层次的检测。

X射线检测：利用X射线穿透物体的能力，检测厚层材料内部的密度和厚度不均匀性。此方法适用于金属材料，并提供影像结果以供进一步分析。

磁粉检测：通过在厚层材料表面施加磁粉，检测由于材料厚度变化或内部缺陷导致的磁场异常。该方法适用于铁磁性材料。

激光测距测厚：使用激光测距仪测量材料表面的距离，通过扫描表面的高低起伏，计算出厚度信息。这种方法适合于各种材料的表面厚度检测。

电涡流检测：通过在厚层材料表面产生的电磁场变化，检测材料内部的缺陷及厚度变化。该方法适用于导电材料，尤其是金属材料。

磁性层厚仪：用于测量钢铁等磁性材料表面镀层的厚度。它通过探测磁性材料的变化来确定涂层的厚度，是适合于测量铁基上涂层厚度的仪器。

涡流层厚仪：适合用于测量非磁性金属基材上的绝缘涂层厚度，如铝上的油漆层。利用电磁感应原理来测量电涡流的变化，从而得出涂层厚度。

超声波测厚仪：用于测量各类材料上的涂层厚度，特别是对非金属基材有效，如塑料或玻璃涂层。通过超声波波速与时间的计算获得厚度测量。

X射线荧光测厚仪：可以对周围材料变化产生荧光，根据荧光的强度计算出层厚，能测量多种不同基材上的镀层，通常用于测量金属镀层。

激光测厚仪：通过激光反射制度来测量厚度，适用于测量连续平整表面，可以对大面积进行快速检测。

干膜厚度计：专为干燥后的涂层设计，应用于测量油漆和涂料的厚度，准确度较高，常用于涂装工艺的质量控制中。