侵入岩检测

地质勘探：通过钻探和样品采集来识别岩石类型和侵入岩特征。

地质测绘：现场地质测绘可识别和记录露头侵入岩的位置、形态和空间分布。

矿物学分析：使用显微镜或其他仪器分析岩石样品中的矿物成分和结构特征。

地球化学分析：测量岩石样品中的元素组成和同位素比值，以确定岩浆来源和岩石演化历史。

地球物理勘测：通过重力、磁力、地震等物理方法在地下探测侵入岩体的位置和规模。

遥感技术：利用卫星影像或空中拍摄的数据，检测地表的地质特征和潜在的侵入岩露头。

放射性同位素测年：确定岩石形成的绝对年龄，从而了解侵入岩活动的时间框架。

结构地质分析：研究岩石变形结构和构造特征，以理解侵入岩与周围岩层的关系。

X射线衍射仪（XRD）：用于分析侵入岩中的矿物组成，通过分析样品的晶体结构提供详细的矿物相信息。

偏光显微镜：用于岩石薄片的详细观察和分析，帮助识别岩石的矿物成分和结构特征。

扫描电子显微镜（SEM）：提供侵入岩的高分辨率图像和元素分析，用于研究岩石的表面特征和微观结构。

电子探针显微分析仪（EPMA）：用于精确测定岩石中矿物的化学成分，帮助了解岩石的形成环境和演化过程。

激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪（LA-ICP-MS）：用于分析岩石样品中的痕量元素和同位素比值，为地质年代学和源区分析提供数据支持。

质子引导X射线发射光谱仪（PIXE）：用于快速无损地分析侵入岩的元素组成，特别是轻元素及痕量重元素。

核磁共振谱仪（NMR）：用于研究岩石中流体的存在状态和分布，辅助判断岩石的孔隙度和渗透率。

地球物理探测仪器（如地震仪、重力仪、磁力仪等）：用于在野外环境中测量侵入岩的物理性质及其对周围地质结构的影响。