矿物检测

X射线衍射法（XRD）：XRD利用矿物晶体中的原子排列与入射X射线相互作用，生成独特的衍射图案，用以识别和定量分析矿物成分。

扫描电子显微镜（SEM）及能谱分析（EDS）：SEM提供矿物高级形貌和形态结构，EDS则用于分析矿物元素组成和分布，结合使用可以提供详细的矿物信息。

拉曼光谱分析：拉曼光谱技术通过分析矿物样品表面对光的散射，识别矿物的分子振动特征，从而识别矿物类型和判定其分子结构。

红外光谱法（FTIR）：该方法通过检测矿物样品对红外光的吸收光谱，推断化学键和分子结构特征，是一种用于确定矿物组成的非破坏性方法。

显微镜岩石学分析：采用偏光显微镜对矿物晶体的光学性质进行研究，通过观察薄片中的矿物形态、光学特性，如干涉色和双折射，识别矿物种类。

火焰光度法和原子吸收光谱（AAS）：这些技术用于测定矿物中的金属元素含量，如钠、钾和钙，为矿物定量分析提供重要的化学元素数据。

质谱分析法：使用质谱仪器对矿物样品进行质量分析，通过分析化合物分子量和元素同位素比，探测矿物中化学成分及其微量元素。

荧光光谱仪：用于检测矿物样品中的元素组成，通过分析矿物发射的荧光光谱，帮助识别矿物化学成分。

X射线衍射仪（XRD）：用于确定矿物的晶体结构，通过分析矿物样品对X射线的衍射模式，识别矿物的种类和结构特征。

扫描电子显微镜（SEM）：用于观察矿物的表面形貌及微观结构，提供高分辨率的图像用于分析矿物的颗粒特征和形态学特征。

质谱仪：用于测量矿物样品的分子量和分子结构，通过离子化样品并分析质荷比，帮助检测矿物中的微量元素和同位素比率。

全反射X射线荧光光谱仪（TXRF）：用于分析矿物表面的元素组成，特别是在极低浓度条件下，通过X射线发出的荧光实现无损检测。

拉曼光谱仪：通过采集矿物分子的振动或旋转能级信息，实现对矿物分子成分分析，用于识别矿物的化学键结构和矿物类型。

电子探针显微分析仪（EPMA）：用于定量分析矿物样品中的元素，通过聚焦的电子束激发样品发出的特征X射线来获取成分信息。

红外光谱仪（FTIR）：用于检测矿物内部的化学键和分子结构，通过测量矿物对红外光的吸收实现矿物成分的定性和定量分析。

残余气体分析仪（RGA）：用于检测矿物样品中存在的微量气体和挥发物，通过高真空系统和质谱技术分析气体成分。

磁化率测量仪：用于测量矿物的磁性，识别磁性矿物，检测矿物中磁性颗粒的类型和浓度。