暗箱长度检测

激光测距法：利用激光测距仪向暗箱发射一束激光，测量激光从发射点到返回点的时间差，根据光速计算出暗箱的长度。

超声波测距法：通过在暗箱内部发射超声波，并测量其传回到发射点的时间差，结合声速，即可求得暗箱长度。

光纤光栅传感器法：在暗箱中布设光纤光栅传感器，当暗箱形变或改变长度时，光纤光栅的反射波长会改变，据此可以测定出暗箱的长度。

视觉成像测量法：利用高分辨率摄像装置捕捉暗箱内壁的影像，通过图像处理技术分析尺寸，计算出长度。

电感位移传感器法：将电感位移传感器安装在暗箱内，两端固定，通过电感变化获知暗箱位移，再换算成长度。

接触式测量法：使用量具如卷尺、卡尺直接测量暗箱的长度，适用于可触及和并开放的暗箱环境。

影像投影法：将已知尺寸的影像投射到暗箱的一侧，通过测量影像拓展的倍率计算出暗箱的长度。

激光测距仪：利用激光测量技术，可以快速、精确地测量暗箱的长度，适合需要高精度测量的环境。

超声波测距仪：利用超声波回声原理来测量长度，适用在光线较暗或需要非接触式测量的情况下。

卷尺或钢卷尺：传统的物理测量工具，适合简单的、不需要高精度的测量任务。

三维激光扫描仪：可提供暗箱的详细3D模型，适用于需要全面了解暗箱结构的应用场合。

数字位移传感器：用于精确测量在限定范围内的长度变化，适合于需要监测暗箱长度变化的场合。

影像处理测量仪：通过摄像机捕捉暗箱图像，结合图像处理技术可以计算出暗箱的长度，适合于需要非接触和自动化测量的场合。