粒组检测

显微镜观察法：使用光学或电子显微镜可以观察颗粒的形状、大小和分布。例如，扫描电子显微镜（SEM）可以提供高分辨率的图像，以识别微小颗粒特征。

筛分分析法：通过不同孔径的筛网，机械或手工筛分样品，以确定不同粒径颗粒的质量百分比，广泛用于砂料或粉末材料的粒度分布检测。

激光衍射法：激光粒度分析仪通过测量样品对激光的衍射和散射角度，计算出粒度分布，广泛用于颗粒细度分析。

沉降分析法：基于颗粒在流体中的沉降速度进行分析，常使用斯托克斯公式计算颗粒尺寸，适用于较小颗粒的测定。

X射线衍射法（XRD）：主要用于晶体结构分析，通过X射线衍射峰值可以了解样品的相对结晶态和颗粒大小。

动态光散射（DLS）：在胶体体系中用于测定纳米级颗粒，通过检测光散射强度的波动，计算颗粒大小分布。

筛分分析仪：用于确定粒度分布，该仪器通过一系列不同孔径的筛网分级分离样本，以计算各个粒径部分的比例。

激光粒度分析仪：利用激光散射原理精确测量颗粒大小和分布情况，适用于粉末、悬浮液等不同形态的样本，能够提供快速且高分辨率的粒度数据。

沉降分析仪：通过颗粒在液体介质中沉降速度的测量来评估粒度分布，常用于颗粒沉降速率测试，适合较为细小的颗粒分析。

图像分析仪：结合显微镜和图像处理技术，能够直接观察和测量颗粒的大小和形状，提供全面的颗粒特征信息，用于样本形态分布的分析。

电阻法粒度分析仪（库尔特计数器）：通过颗粒在电流穿过的孔径中的电阻变化来测量颗粒的体积和数量，适用于液体悬浮体系中的颗粒检测。