粒度检测

显微镜法：通过使用高倍率显微镜，观察样品中颗粒的大小和形状。这种方法适用于分析微米尺度的颗粒，并能提供颗粒的形态和分布信息。

筛分法：利用具有不同孔径的筛子对颗粒进行分级，通过称量筛上物和筛下物来确定颗粒的粒度分布。这种方法适合于较大的颗粒（>74微米）。

激光粒度分析法：此方法使用激光束照射颗粒分散在液体或气体中的样品，测量散射光的角度分布，从而精准计算出颗粒尺寸。这是一种快速、准确的方法，适合测量从纳米到毫米尺度的颗粒。

沉降法：将颗粒分散在液体中，通过观察其沉降速度来推断粒度分布。这种方法基础于斯托克斯定律，适用于测量较小颗粒（<100微米）的粒度。

图像分析法：利用图像处理软件分析采集到的颗粒图片，通过边缘检测、灰度处理等方式计算颗粒的大小和形状。这种方法不仅能测量颗粒大小，还能分析其形态特征。

X射线衍射法：通过分析颗粒与X射线的相互作用，记录衍射图谱，以确定颗粒的晶体结构和大小，尤其适用于结晶颗粒的分析。

电子显微镜法：使用扫描电子显微镜（SEM）或透射电子显微镜（TEM）对颗粒进行成像，适用于观察纳米尺度的细微结构，提供详细的颗粒形貌信息。

动态光散射（DLS）法：此方法利用光的扩散特性，通过测量颗粒的布朗运动来确定其大小和分布，尤其适合分析纳米颗粒的粒度。

激光粒度分析仪：这款仪器利用激光衍射原理来测定颗粒样品的粒度分布，可以对干燥粉末和悬浮液进行精确的测量，其快速、精确和易操作的特点使其广泛应用于各种行业。

动态光散射仪（DLS）：适用于纳米至微米级粒度的测量，尤其是在液态环境中通过光散射测量粒子布朗运动来计算粒径分布，常用于分子和纳米材料的表征。

显微图像分析仪：通过显微成像技术获取颗粒样本的直接图像，并利用图像处理软件分析粒径和颗粒形态。它适用于非均匀颗粒尺寸分布的分析，可提供颗粒形貌的详细信息。

筛分仪：一种传统的机械方法，通过一系列标准筛网来分离和计算不同粒径的颗粒，适用于较大颗粒的分级，并在矿业、建筑等行业中广泛使用。

电阻抗式颗粒分析仪：利用库尔特原理，在电解液中测量颗粒通过孔径时形成的电阻变化，从而计算粒径，适合悬浮液中颗粒的分析。